HL-JTM-6065C金相测量显微镜采用光学自动化检测设备,主要用于LCB、PDP、PCB等相关的光电产业,为其研发、制造提供所需的检测设备。具有观察OLB压接粒子分布、液晶板表面贴附的异物、液晶板划伤情况、测量导电粒子大小、数量等功能。 仪器参数: 仪器型号 JTM-6065C 工作台 玻璃台尺寸(mm) 750*650 运动行程(mm) 650*600 仪器重量(kg) 800 外形尺寸(mm) 1270*1150*1860 Z轴电动升降行程 200 mm X、Y、Z数显分辨力 0.5μm 工作距离 92 mm X、Y坐标示值误差 (2.5+L/200) μm (L为被测长度,单位:mm)